| Карточка | Таблица | RUSMARC | |
|
|
Dinnebier, Robert E.,. Rietveld refinement: practical pattern analysis using TOPAS / Robert E. Dinnebier, Andreas Leineweber, John S.O. Evans. — 1 online resource (xvi, 331 pages) — <URL:http://elib.fa.ru/ebsco/2018175.pdf>.Дата создания записи: 17.02.2019 Тематика: Rietveld method.; X-rays — Diffraction.; Crystallography.; Crystallography.; Rietveld method.; X-rays — Diffraction. Коллекции: EBSCO Разрешенные действия: –
Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Группа: Анонимные пользователи Сеть: Интернет |
Права на использование объекта хранения
| Место доступа | Группа пользователей | Действие | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Локальная сеть Финуниверситета | Все |
|
||||
| Интернет | Читатели |
|
||||
|
Интернет | Анонимные пользователи |
Оглавление
- Preface
- Contents
- 1. The powder diffraction method
- 2. The Rietveld method
- 3. Structure independent fitting
- 4. Peak shapes: Instrument o microstructure
- 5. Quantitative phase analysis
- 6. Restraints, constraints and rigid bodies
- 7. Solving crystal structures using the Rietveld method
- 8. Symmetry mode refinements
- 9. Magnetic refinements
- 10. Stacking disorder
- 11. Total scattering methods
- 12. Multiple data sets
- 13. Appendix: Mathematical basics
- Index
Статистика использования
|
|
Количество обращений: 0
За последние 30 дней: 0 Подробная статистика |